Power Tester 1800A功率循環(huán)測試儀

發(fā)布時(shí)間：2025-08-12 15:21:42,加入時(shí)間:2025年06月10日(距今63天)
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報(bào)價(jià):1/套

Power Tester功率循環(huán)及熱測試平臺(tái)

一、產(chǎn)品概述

先進(jìn)的測試?yán)砟睿和粋€(gè)測試平臺(tái)可以同時(shí)進(jìn)行功率循環(huán)和熱測試，任何與老化降級相關(guān)的熱效應(yīng)都可以在不移動(dòng)待測器件的情況下通過結(jié)構(gòu)函數(shù)在線監(jiān)測，與傳統(tǒng)的老練設(shè)備相比更加節(jié)省時(shí)間，能獲得完整的失效數(shù)據(jù)。

先進(jìn)的測試技術(shù)：熱測試設(shè)備T3Ster的熱瞬態(tài)測試技術(shù)及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析方法。

測試范圍廣：可測試MOSFET, IGBT以及二極管等器件。

簡單易用的觸摸屏界面：Power Tester 在功率循環(huán)測試期間能夠記錄包括電流、電壓、溫度、結(jié)構(gòu)函數(shù)等信息在內(nèi)的參數(shù)。

多種功率循環(huán)模式：Power Tester 包含了恒定時(shí)間Ton和Toff，恒定電流，恒定殼溫變化ΔTC，恒定結(jié)溫變化ΔTJ以及恒定功率變化ΔP等模式。

實(shí)時(shí)結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷：方便用戶快速地獲得循環(huán)過程中的缺陷，對應(yīng)的循環(huán)數(shù)以及失效原因等。

無需功率循環(huán)后的實(shí)驗(yàn)室檢測及破壞性失效分析：無需再使用傳統(tǒng)的x射線、超聲波或者其他的破壞性方法來進(jìn)行失效分析。

測試操作簡便：用戶只需根據(jù)系統(tǒng)提示將器件對應(yīng)管腳連接到設(shè)備，無需了解復(fù)雜的測試電路。

幫助用戶設(shè)計(jì)更加可靠的電子封裝產(chǎn)品：Power Tester提供的特性化測試數(shù)據(jù)，可以直接導(dǎo)出給熱仿真軟件FloTHERM，利用實(shí)測結(jié)果來實(shí)現(xiàn)模型自動(dòng)校準(zhǔn)功能，幫助用戶得到精確的，符合實(shí)際的仿真模型。

預(yù)估器件壽命：幫助用戶獲得功率電子器件在真實(shí)應(yīng)用條件下的使用壽命。

二、產(chǎn)品信息

PWT 1500A/1800A/3600A PWT 600A PWT2400A

1、產(chǎn)品型號(hào)

型號(hào)

1500A

3C 12C

PWT 1800A 12C 12V

PWT 3600A 12C 6V

PWT 600A 16C 48V

2400A 16C12V

加熱通道數(shù) 3 3 3 2 4