Mentor Graphics PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)
隨著IGBT等電力電子器件的功率不斷增大，應(yīng)用的范圍也隨之變得越來越廣，從電機(jī)驅(qū)動(dòng)、光伏逆變器，到鐵路牽引、電動(dòng)/混合動(dòng)力汽車無不涉獵。但是電力電子器件不僅要工作在正常狀態(tài)下，有時(shí)候也需要工作在極端情況下，電子電子器件的工作性能會(huì)直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的工作性能，因此IGBT等電力電子器件的功率循環(huán)及熱測(cè)試在整個(gè)研發(fā)、生產(chǎn)過程中尤為重要。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)基于MicReD T3Ster瞬態(tài)熱測(cè)試技術(shù)進(jìn)行工業(yè)化開發(fā)和應(yīng)用，提供全自動(dòng)的功率循環(huán)測(cè)試，針對(duì)MOSFET、IGBT和通用的兩極功率器件可以進(jìn)行三個(gè)樣品同時(shí)測(cè)試，每個(gè)樣品電流可達(dá)500A，對(duì)于單個(gè)電力電子器件進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試時(shí)，電流可達(dá)1500A。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)支持自動(dòng)功率循環(huán)及熱測(cè)試，利用實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)對(duì)老化過程中器件出現(xiàn)的缺陷進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)。PT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)首次同時(shí)集成了自動(dòng)功率循環(huán)、熱測(cè)試以及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析功能，客戶只需要一個(gè)平臺(tái)就能夠?qū)ζ骷M(jìn)行熱測(cè)試及可靠性，無需再像以往一樣先進(jìn)行功率循環(huán)老化，再轉(zhuǎn)移到其他設(shè)備進(jìn)行診斷。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)能夠在功率循環(huán)過程中實(shí)時(shí)監(jiān)控電流（包括柵極電流）、電壓以及結(jié)溫等參數(shù)，同時(shí)利用結(jié)構(gòu)函數(shù)分析循環(huán)過程中封裝結(jié)構(gòu)的改變和缺陷等。PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)可以用于幫助客戶加強(qiáng)以及加速封裝結(jié)構(gòu)研發(fā)、可靠性測(cè)試以及可靠性篩選的批量測(cè)試。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)在進(jìn)行功率循環(huán)的同時(shí)，可以實(shí)時(shí)提供結(jié)構(gòu)函數(shù)的分析結(jié)構(gòu)以顯示正在發(fā)展的缺陷，循環(huán)數(shù)以及失效的原因，這樣可以省去循環(huán)結(jié)束后的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)。PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)可以對(duì)多樣品長(zhǎng)時(shí)間進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試，告別傳統(tǒng)的先確定器件衰減發(fā)生的時(shí)間范圍，再在該時(shí)間范圍內(nèi)進(jìn)行一系列的熱測(cè)試以確保獲得衰減數(shù)據(jù)。（與傳統(tǒng)的功率循環(huán)設(shè)備相比，PT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)可以確保不錯(cuò)過任何一個(gè)器件衰減的時(shí)間點(diǎn)。）
利用PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)，用戶可以設(shè)計(jì)更加可靠的電子封裝產(chǎn)品，并為其用戶提供精確的可靠性數(shù)據(jù)。PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)提供的測(cè)試及特性化數(shù)據(jù)，可以與熱仿真軟件FloTHERM和FloEFD結(jié)合使用，以調(diào)整和驗(yàn)證其熱學(xué)模型。
Mentor Graphics PWT1500A功率循環(huán)與熱測(cè)試系統(tǒng)主要特點(diǎn)
先進(jìn)的測(cè)試?yán)砟睿和粋�(gè)測(cè)試平臺(tái)可以同時(shí)進(jìn)行功率循環(huán)和熱測(cè)試，任何與老化降級(jí)相關(guān)的熱效應(yīng)都可以在不移動(dòng)待測(cè)器件的情況下通過結(jié)構(gòu)函數(shù)在線監(jiān)測(cè)，與傳統(tǒng)的老練設(shè)備相比更加節(jié)省時(shí)間，能獲得完整的實(shí)效數(shù)據(jù)。
先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)：熱測(cè)試設(shè)備T3Ster的熱瞬態(tài)測(cè)試技術(shù)及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析方法。
測(cè)試范圍廣：測(cè)試包括功率MOSFET，功率IGBT以及功率二極管等電力電子設(shè)備。
簡(jiǎn)單易用的觸摸屏界面：功率循環(huán)測(cè)試期間能夠記錄包括電流、電壓、結(jié)溫、結(jié)構(gòu)函數(shù)以及結(jié)構(gòu)改變等信息在內(nèi)的參數(shù)。
多種功率循環(huán)模式：測(cè)試平臺(tái)包含了恒定時(shí)間Ton和Toff，恒定殼溫的變化ΔTC，恒定結(jié)溫的變化ΔTJ以及恒定功率P等模式。
實(shí)時(shí)結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷：方便用戶快速地獲得循環(huán)過程中的缺陷，對(duì)應(yīng)的循環(huán)數(shù)以及失效原因等。
無需功率循環(huán)后的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)及破壞性失效分析：無需再使用傳統(tǒng)的x射線、超聲波或者其他的破壞性方法來進(jìn)行失效分析。
測(cè)試操作簡(jiǎn)便：用戶只需根據(jù)提示將器件對(duì)應(yīng)管腳連接到設(shè)備。
