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Agilent E4991A阻抗分析儀二手收購

  • 發(fā)布時間:2025-04-22 16:34:42,加入時間:2021年01月23日(距今1626天)
  • 地址:中國»廣東»深圳:深圳沙井街道寶安大道8206號創(chuàng)新商務(wù)園7樓703
  • 公司:深圳市金誠電子儀器有限公司,用戶等級:普通會員 已認(rèn)證
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Agilent E4991A阻抗分析儀二手收購703室

E4991A 射頻阻抗/材料分析儀
 主要特性與技術(shù)指標(biāo)
本精度
本精度 +/-0.8%
掃描參數(shù)
頻率:1 MHz 至 3 GHz
振蕩器電平:高達(dá) 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置電平(選件 E4991A-001):+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 風(fēng)格的用戶界面
內(nèi)置 VBA 編程功能
通過 LAN 接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
多功能測量選件
介電/磁性材料測量(選件 E4991A-002)
可靠的晶圓測量(選件 E4991A-010)
溫度特性測量(選件 E4991A-007)
描述
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計人員

測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能,幫助他們進(jìn)行研發(fā)工作。與反射測量技術(shù)不同,E4991A 使用射頻電

流–電壓(RF-IV)技術(shù),可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更的阻抗測量結(jié)果。本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度

有利于進(jìn)行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
 材料評估
E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案,涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。
 E4991A 射頻阻抗/材料分析儀
 主要特性與技術(shù)指標(biāo)
本精度
本精度 +/-0.8%
掃描參數(shù)
頻率:1 MHz 至 3 GHz
振蕩器電平:高達(dá) 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms
DC 偏置電平(選件 E4991A-001):+/- 40V 或 +/- 50 mA
更多特性
Windows 風(fēng)格的用戶界面
內(nèi)置 VBA 編程功能
通過 LAN 接口進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸
多功能測量選件
介電/磁性材料測量(選件 E4991A-002)
可靠的晶圓測量(選件 E4991A-010)
溫度特性測量(選件 E4991A-007)
描述
E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強(qiáng)大的內(nèi)置分析功能。它將為元器件和電路設(shè)計人員

測量 3 GHz 以內(nèi)的元器件提供創(chuàng)新功能,幫助他們進(jìn)行研發(fā)工作。與反射測量技術(shù)不同,E4991A 使用射頻電

流–電壓(RF-IV)技術(shù),可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更的阻抗測量結(jié)果。本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度

有利于進(jìn)行低功耗元器件分析。內(nèi)置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。
 主要特性與技術(shù)指標(biāo)
3 種頻率選件:1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz,可升級
±0.65% 基本精度和 120 m 至 52 k 阻抗范圍(10% 測量精度范圍)
內(nèi)置直流偏置(選件 001):0 V 至 ±40 V,0 A 至 ±100 mA
10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏可顯示 4 個通道和 4 條跡線
數(shù)據(jù)分析功能:等效電路分析、極限線測試
溫度特征測量(選件 007)和可靠的晶圓上測量(選件 010)功能
E4991B 阻抗分析儀具有 1 MHz 至 3 GHz 的頻率范圍,可在寬阻抗范圍內(nèi)提供 0.65% 的基本精度,并且內(nèi)置

40 V 直流偏置源(選件 001)。等效電路分析功能支持 7 種不同的多參數(shù)模型,可幫助您仿真元器件的等效

參數(shù)值。
3 種頻率選件(1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz)以及頻率升級選件使您可以根據(jù)***新的投資額度選購***適

合的選件。
材料測量選件提供溫度特征分析功能(選件 007),并能夠直接得到介電常數(shù)和導(dǎo)磁率的讀數(shù)(選件 002)。
探頭臺連接套件(選件 010)可在高達(dá) 3 GHz 的頻率范圍內(nèi)提供的晶圓上或微型元器件阻抗測量解決方

案。
E4991B 支持多款測試附件,因此能夠降低測量復(fù)雜性并提高可靠性。
無論您是從事研發(fā)、質(zhì)保還是質(zhì)檢工作,E4991B 都可以幫助您出色地表征和測試電子元器件、半導(dǎo)體器件和

材料。

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