ITC55100 ITC75100晶體管圖示儀
ITC55100C 型號是一代的行業(yè)標準系列 ITC55100 測試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個非常強大的微控制器設計的，它的時序分辨率為40ns，比前代型號快20倍。其對峰值和零電流的響應時間提高了十倍。結合這一功能，可提高充電和雪崩時間以及報告的峰值排水電流的準確性。
ITC55100C 型號具有雙極柵驅動器作為標準功能。用戶可以設置高達 30V 的總柵極驅動器，并可以選擇 30V 中有多少為正，有多少是負的。此功能可確保某些設備在雪崩期間保持狀態(tài)。
ITC55100C 執(zhí)行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類型的測試。方法 3470 通過強調(diào) P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來測試它們的能力。這是通過驅動未夾緊的電感負載的設備實現(xiàn)的。
•單/雙設備測試
• N 通道，P 通道，混合
• 所有固態(tài)開關 • 無繼電器
• 40ns 的時序分辨率
• 電流范圍：0.1A 至 200A，0.1A 步長
• 阿瓦蘭奇電壓至 2500V
• 雙極柵驅動，帶 30V 回轉
• 新的高效開爾文電路
• 傳統(tǒng)的 UIL 模式（通過 GPIB）
• 觸摸屏程序輸入/控制
• 波形捕獲/顯示
• 內(nèi)部測試程序存儲（20 個文件）
• 高速電感充電，縮短測試時間
• 可編程泄漏測試電壓
• 阿瓦蘭切前/后泄漏測試
• 阿瓦蘭奇坍塌測試
• 多功能測試處理程序控制
• 多達 15 個硬件排序箱
• 提高電壓/電流精度
• 通過閃存進行軟件更新
• 參數(shù)輸入的密碼控制
• 使用所有 ITC 電感負載箱運行
• 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口
• 簡單、完整的用戶校準
• 內(nèi)置自檢
ITC75100 是一種增強的未夾式電感負載 （UIL） 測試系統(tǒng)，它基于 ITC 行業(yè)領先的 ITC55 系列測試儀的成功，增加了額外的測試和測量能力。
ITC75100 對功率 MOSFET、IGBT 和二極管進行堅固性測試，這些測試符合 MIL-STD-750 方法 3470，通過強調(diào)它們達到受控的能量水平，由驅動未夾緊電感負載的設備完成。改進的測試規(guī)范允許完全控制測試參數(shù)。
特征
• 平板電腦用戶界面，具有大顯示屏和增強的數(shù)據(jù)處理能力
• 低電流和快速電流波形功能
• 用于 DUT 和接口保護的內(nèi)部并行能量路徑
• 使用本地柵極驅動器測量 POD
• 帶 30V 總回轉的主動柵極驅動
• 在測試前或測試后的指定延遲時間（高達 250μSec）之前，使用可編程電流源精確測量 Rdson 在指定電流級別下使用 Vf 雜物
• 單/雙（需要兩個 POD）設備測試
• 波形捕獲/顯示
• 測試處理程序控制和裝箱
• 內(nèi)置自檢
• 對所有測試儀測量的簡單用戶校準
