NEW 阻抗分析儀ZA57630
從電子零件、半導體器件到材料的特性評價，應對多樣的阻抗測量需求
基本精度 ±0.08%
頻率范圍 10 µHz～36 MHz
阻抗范圍 10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
阻抗分析儀
NEW 阻抗分析儀ZA57630
“True Value”
測量真正的特性。
ZA57630
ZA57630
從電子零件、半導體器件到材料的特性評價，應對多樣的阻抗測量需求
基本精度
頻率范圍
阻抗范圍
測量 AC 信號級別
DC 偏置
測量時間
測量參數(shù)
±0.08%
10 µHz～36 MHz
10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms
−5 V ～ +5 V/−40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY
快速測量 業(yè)界最快 0.5 ms/point
實現(xiàn)了業(yè)界最快的0.5ms/point。
縮短生產(chǎn)線的節(jié)拍時間，提高測量作業(yè)的效率。
此外，通過增加設定的測量時間，使測量結果平均化，減輕噪聲的影響�？梢曅枰x擇最合適的測量時間。img01
4種測量模式 應對廣泛的DUT
IMPD-3T
標準測量模式
本模式可以在廣泛的頻率范圍內(nèi)進行高精度測量�？墒褂脺y試線及測試夾具，應對各種形狀的試樣。img02
IMPD-2T
高頻測量模式
本模式可以在 10MHz 以上的高頻下進行穩(wěn)定的測量。使用 N 型連接器進行 2 端子測量，即便配線長，也可以進行穩(wěn)定的測量。img03
IMPD-EXT
外部擴展測量模式
本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進行測量。
可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓 / 電流進行單獨使用本儀器無法應對的測量。img04
G-PH
增益/相位測量模式
本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號，高精度地測量其頻率響應（增益、相位）。img05
正面面板測量端子
阻抗分析儀
NEW 阻抗分析儀ZA57630
特點
結合用途配備豐富的功能！
以最適合DUT特性的設定，支持高重現(xiàn)性且準確的測量。
準確的評價基于實際使用的操作條件。
電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴性，二極管等半導體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
要評價真實的特性，重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻，在實際的操作條件下進行測量。
特點
掃頻
延遲功能
標記操作
測量條件等的設定
自動高密度掃頻
順序測量
量程
誤差校正
圖表顯示
豐富的功能
共振點跟蹤測量
相對介電常數(shù)測量
外部基準時鐘
等效電路估算
相對導磁率測量
存儲器操作
壓電常數(shù)計算
比較器 / 處理器接口
掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬
AC 振幅掃描
AC amplitude sweep
掃頻
Frequency sweep
DC 偏置掃頻
DC bias sweep
