電容器介質(zhì)損耗是指電容器中介質(zhì)所引起的能量損失。它可能由多種原因引起，以下是一些常見的原因：

1、介質(zhì)損耗角正切：介質(zhì)的損耗角正切是介質(zhì)損耗的主要參數(shù)之一。介質(zhì)損耗角正切越大，表示介質(zhì)的損耗越大。這是由介質(zhì)的特性決定的，通常與介質(zhì)的化學(xué)成分、結(jié)構(gòu)以及制備工藝有關(guān)。

2、電介質(zhì)的不均勻性：如果電介質(zhì)的質(zhì)量不均勻或存在雜質(zhì)，可能會導(dǎo)致介質(zhì)損耗增加。這種不均勻性會導(dǎo)致局部電場強度不均勻，從而引起局部損耗。

3、溫度效應(yīng)：溫度對介質(zhì)損耗有明顯影響。通常情況下，介質(zhì)的損耗角正切會隨溫度的升高而增加，因為高溫會使介質(zhì)分子更加活躍，從而增加能量損失。

4、電場應(yīng)力：過高的電場應(yīng)力可能導(dǎo)致介質(zhì)損耗的增加。在電場強度過高的情況下，介質(zhì)中的分子會被強電場引起的極化和移動，從而產(chǎn)生額外的損耗。

5、頻率效應(yīng)：介質(zhì)的損耗角正切通常會隨著頻率的增加而增加。在高頻條件下，介質(zhì)分子的運動會更加頻繁，導(dǎo)致能量損失增加。

6、電壓應(yīng)力：如果電容器長時間處于高電壓下工作，可能會導(dǎo)致介質(zhì)損耗的增加。這可能是因為電介質(zhì)在高電壓下發(fā)生擊穿或介質(zhì)分子受到電場應(yīng)力的影響。

7、介質(zhì)老化：長時間使用或環(huán)境因素（如高溫、潮濕等）可能導(dǎo)致介質(zhì)的老化，從而增加介質(zhì)損耗。

綜上所述，電容器中介質(zhì)損耗的增加可能由介質(zhì)本身的特性、不均勻性、溫度、電場應(yīng)力、頻率、電壓、介質(zhì)老化等因素引起。在設(shè)計和選擇電容器時，需要綜合考慮這些因素以減小介質(zhì)損耗的影響。